|
|
|
Главная --> Справочник терминов Межплоскостных расстояний Образец аморфного ПЭТФ в виде полоски шириной 2 мм и длиной 20 мм помещают в термостат на 1 ч при 180°С для изотермической кристаллизации. Другой такой же образец закрепляют в рентгеновской камере, юстируют в ней и затем в фотокомнате производят зарядку камеры с образцом рентгеновской пленкой. Камеру устанавливают на столик рентгеновского аппарата для экспозиции. По истечении 1 ч кристаллизации первый образец извлекают из термостата и закрепляют в камере для съемки. После экспозиции фотообработки и сушки рентгенограммы сопоставляют и рассчитывают межплоскостные расстояния. Измеряют расстояние 2/ между симметричными рефлексами, расположенными на слоевых линиях с одним и тем же номером. Рассчитывают с использованием уравнения (VI. 8) межплоскостные расстояния. Полученные данные вносят в таблицу. Поскольку tg 2d = I/a, то отсюда можно найти угол рассеяния, соответствующий данному рефлексу. Зная углы рассеяния, по уравнению (VI. 8) рассчитывают межплоскостные расстояния d (в нм). решетке. Оказалось, что около границ зерен межплоскостные расстояния изменяются и дилатации кристаллической решетки могут достигать 1,5 %. Данные по структуре углеродных волокон противоречивы. Установлено, что они менее упорядочены, чем графит, и ie имеют четких рентгенографических характеристик, а межплоскостные расстояния в них составляют 0,34-0,345 им [112, 118]. 'Однако другие авторы показали, что углеродные волокна имеют только кристаллическую структуру и состоят из графнтоподобных слоев. Плоскости слоев расположены параллельно оси волокна [164] Статистическая обработка результатов многих работ показала, что диаметр углеродных волокон составляет от 30 до 300 им. Длина превышает диаметр на несколько порядков и может достигать 1 мм [58, 71]. Положение центра тяжести дифракционных максимумов определялось согласно методике, изложенной в [52]. По найденным значениям углов отражения Брегга находились межплоскостные расстояния из справочных таблиц [52J. Если пленку поместить в специальную камеру цилиндрической формы, чтобы образец находился в ее центре, а пучок лучей был перпендикулярен оси цилиндра, то на фотопленке возникнет система дуг, симметричных относительно первичного пучка. Полученная таким образом рентгенограмма называется дебаеграммой. Измерив расстояние между симметричными дугами на дебаеграмме (или расстояние между соответствующими симметричными максимумами на ди-фрактограмме), можно найти угол 2 в, а затем по формуле Вульфа-Брэгга рассчитать соответствующие межплоскостные расстояния. ной растворами NaOH (Na-Ц!) и КОН (К-ЦГ) концентрацией 5...6 моль/дм3 и LiOH (Li-Ц!) концентрацией 4,5...4,6 моль/дм3 и превращенной в гидратцеллюлозу (Ц11), а также рассчитанное число молекул воды на одно глюкопиранозное звено при условии, что на одно звено приходится одна ионная пара гидроксида. При образовании щелочной целлюлозы из целлюлозы 1 происходит разрушение межмолекулярных связей в плоскостях решетки 020 и ПО, глюкопиранозные звенья поворачиваются и, что самое заметное, значительно увеличивается расстояние между плоскостями 110. Межплоскостные расстояния килсульфатов межплоскостные расстояния, соответствующие толщине мицеллярных слоев, увеличиваются пропорционально солю-билизованному компоненту и молекулы углеводорода занимают место между гидрофобными цепями внутри мицелл. Брэгговские межплоскостные расстояния на рентгенограммах также дают основные структурные параметры: общую толщину d слоя ламеллярной структуры (рис. 1), расстояние D между осями двух соседних цилиндров для гексагональной структуры (рис. 2) или между центрами сфер для кубических структур (рис. 3). Рентгенограмма не дает информации ни о толщинах d\ и d-в индивидуальных слоев (рис. I), ни о радиусах R цилиндров или сфер (рис. 2 и 3). В принципе величины этих параметров могут быть получены по относительным интенсивностям рентгеновских рефлексов [1]. Однако измерение интенсивностей малоугловых рефлексов затруднительно и не совсем точно, в связи с чем этот метод используется редко. Межплоскостные расстояния ( I) Цель работы. Получение рентгенограмм исходного и прогретого полиэтилентерефталата при температуре выше его температуры стеклования, определение по рентгенограммам фазового состояния образцов, расчет межплоскостных расстояний. Для расчета межплоскостных расстояний кристаллической решетки полимера измеряют диаметры рефлексов с помощью компаратора и линейки. Диаметр (2/) измеряют в миллиметрах с точностью до десятых долей. Размытые линии измеряют по их серединам. Измерения проводят по диаметру рентгенограммы. размещают в виде цилиндра вокруг образца (см. рис. 28.9). Этот метод особенно полезен при качественном анализе, а также при измерении и сравнении межплоскостных расстояний Деформационное двойное лучепреломление связано с изменением валентных углов и/или длин связей, а также упаковки (изменение межплоскостных расстояний в кристаллической решетке) при деформировании полимера (рис. 35.2). Двойное лучепреломление такого типа наблюдается как в оптически изотропных частицах, так и в анизотропных системах. Как известно, искажения кристаллической решетки вблизи дефектов кристаллического строения приводят к формированию областей сжатия и растяжения. В работе [121] подобные области наблюдались вблизи границ зерен, о чем свидетельствовали результаты измерения межплоскостных расстояний в кристаллической Полученные закономерности влияния температуры процесса на структуру отложений волокнистого углеродною вещества подтверждаются значениями межплоскостных расстояний и размеров кристаллов. С ростом температуры процесса наблюдается уменьшение межплоскостных расстояний размещают в виде цилиндра вокруг образца (см. рис. 28.9). Этот метод особенно полезен при качественном анализе, а также при измерении и сравнении межплоскостных расстояний Деформационное двойное лучепреломление связано с изменением валентных углов и/или длин связей, а также упаковки (изменение межплоскостных расстояний в кристаллической решетке) при деформировании полимера (рис. 35.2). Двойное лучепреломление такого типа наблюдается как в оптически изотропных частицах, так и в анизотропных системах. Рентгеноструктурное исследование не только подтвердило наличие кристаллической структуры в образцах всех трех типов, но показало также, что все кристаллические структуры являются изотропными и характеризуются одинаковыми (кроме прессованных образцов) значениями межплоскостных расстояний по разным осям. где dhhi — межплоскостное расстояние; 9 — угол скольжения (рис. 10); К — длина волны рентгеновских лучей; п — целое число. Угол 9 легко определяется экспериментально: он равен половине угла между падающим и дифрагированным лучами; К всегда известно (например, для рентгеновской трубки с медным анодом Я =1,542 А для СиКд-излучения); я во многих случаях можно считать равным единице. Таким образом, по формуле Вульфа — Брэгга можно определить набор межплоскостных расстояний, типичных для данного кристалла, и если известно, к какой кристаллической системе он принадлежит, пользуясь соотношениями типа (2.5) — (2.7), определить параметры элементарной ячейки а, Ь, с. Если тип элементарной ячейки неизвестен, то определение параметров ячейки значительно усложняется. Последовательность межплоскостных расстояний на рентгенограммах легко дает тип структуры — ламеллярной, цилиндрической или кубической. Обычно трудно отличить (рентгенограммы кубических структур довольно бедны рефлексами) центрированную кубическую решетку от простой кубической решетки, которые различаются только присутствием или отсутствием рефлекса У?.  Макроскопической намагниченности Миллиметровом диапазоне Минеральными кислотами Минимальные количества Минимальным содержанием Минимальной температуры Минимального количества Минимумом потенциальной Минусовых температурах |
- |
Навигация