Главная --> Справочник терминов


Рентгеновского рассеяния * Фэр—физический эквивалент рентгена—доза любого вида излучения, создающая такое же количество пар ионов и данном объеме, что н доза рентгеновского излучения величиной \ рентген; \ рентген—2,083' 109 tl_W_^!!!!?"

Измерение ШРР ориентированных поликристаллических образцов позволяет не только определить степень ориентации главной цепи, но также и ориентацию двух других кристаллографических осей. Пусть монокристалл состоит из кристаллических ячеек с кристаллографическими осями a, b и с (будем считать для простоты, что эти оси взаимно перпендикулярны, как в орторомбической решетке полиэтилена). Можно считать, что плоскости образованы вершинами кристаллической решетки, которые играют роль отражателей импульсного рентгеновского излучения. Результирующий эффект взаимного усиления отраженных импульсов от последовательных плоскостей, отстоящих друг от друга на расстоянии d, зависит в соответствии с законом Брегга от угла 0, под которым рентгеновское излучение попадает на отражающую кристаллографическую плоскость:

Если полимеры подвергаются действию разных видов ионизирующей радиации (например, рентгеновского излучения), то их электрическая проводимость существенно увеличивается. Это обусловлено тем, что под влиянием ионизирующей радиации происходят ионизация и возбуждение макромолекул. Увеличение интенсив-

где п — порядок отражения рентгеновских лучей (обычно отчетливо проявляются рефлексы первого порядка, т. е. «= 1); А— длина волны фильтрованного рентгеновского излучения (для медного зеркала анода трубки К = 0,154 нм); d — межплоскостное расстояние; ft — угол отражения рентгеновских лучей, который можно определить по схеме хода лучей при дифракции в цилиндрической камере (рис. VI. 22).

Уникальным методом определения структуры является рент-геноструктурный анализ, основанный на дифракции рентгеновского излучения при рассеянии на кристалле вещества. С помощью этого метода можно получить данные о точном пространственном расположении атомов в молекуле исследуемого вещества, о длинах связей между атомами и углах между связями. Единственный недостаток метода — сложность математической обработки результатов измерений, поэтому распространение рентгеноструктурного анализа было связано с быстрым развитием вычислительной техники в последние годы**.

Доля рентгеновского излучения, поглощенного данным образцом, определяется коэффициентом поглощения вещества по отношению к рентгеновским лучам определенной длины волны.

3. Сильное рассеяние электронов, проходящих через образец, приводит к тому, что интенсивность дифракции в 106—10 раз выше интенсивности, достигаемой в аналогичных условиях при использовании рентгеновского излучения.

Предметом электронной спектроскопии для химического анализа * (ЭСХА) является измерение энергий связи электронов, испускаемых при взаимодействии молекулы с монохроматическим пучком мягкого рентгеновского излучения.

При действии мягкого рентгеновского излучения на внутренние (остовные) электроны протекают три процесса (рис. 30.1).

Рис. 30.1. Взаимодействие мягкого рентгеновского излучения с электронами в молекуле, а—фотоионизация; б—встряхивание; в—стряхивание.

При взаимодействии образца с монохроматическим пучком рентгеновских лучей возможны два случая: от образца с кристаллической структурон рентгеновские лучи рассеиваются когерентно без изменения длины волны, т.е. рассеивание сопровождается дифракцией рентгеновских лучей; от образца с нерегулярной структурой, т е. содержащего аморфные н кристаллические области рассеяние "происходит иекогерентио н сопровождается изменением длины волны. На этом основано использование рентгеноструктурного анализа для оценки структурной упорядоченности в расположении макромолекул и их частей При дифракции рентгеновских лучей появляются дифрагированные пучкн результат интерференции вторичного рентгеновского излучения, возникающего при взаимодействии первичного излучения с электронными оболочками атомов (рис 1.24). Дифрагированные лучн будут интерферировать (усиливаться), если выполняется условие Брэгга— Вульфв-

— путем наблюдения методом рентгеновского рассеяния за изменениями размеров единичной ячейки сильно ориентированных полимеров под нагрузкой.

Журков с сотрудниками предлагают две схемы строения ориен^ тированных аморфно-кристаллических полимеров (рис. VI. 11, VI. 12) [16]. Модель, представленная на рис. VI. 11, лучше соответствует электронномикроскопическим данным. Методом электронной микроскопии сравнительно хорошо наблюдаются длинные фибриллы с поперечными размерами порядка десятков нанометров, внутреннее же строение фибрилл, т. е. большие периоды, просматриваются плохо. Другая модель (рис. VI. 12) ближе к рентгенографическим данным. Метод малоуглового рентгеновского рассеяния хорошо регистрирует чередование вдоль оси- ориентации

Для выяснения влияния дефектов на характер рентгеновского рассеяния (т. е. на вид рентгенограмм полимеров) Хоземанном была предложена модель идеального паракристалла. Паракри-сталл получается из монокристалла путем изменения углов между единичными трансляциями в различных элементарных ячейках без изменения длин этих трансляций (рис. VI. 3). Анализ показал, что дефектность кристаллической структуры в полимерах приводит к уширению дифракционных рефлексов и изменению их

Было отмечено, что только метод нейтронного рассеяния может дать прямую информацию по этому вопросу, хотя трактовка данных не является однозначной. Эта дискуссия продолжалась и далее. На основании результатов рентгеновского рассеяния утверждается [189], что имеется некоторый уровень упаковочной регулярности и в аморфных полимерах.

-ИК-спектроскопии 473 -калориметрический 107,110 -капиллярной конденсации 55 -локального поля Л орвнтца 230 -малоуглового рентгеновского рассеяния 334 -наименьших квадратов 127 -нейтронного рассеяния 334 -обратного переменного шага 320 -оптический 107 -пикнометрический 58 -планирования эксперимента 457 -поликонденсации 58 -полимеризации в растворе 58 -поляризационно-оптический 247 -регистрации спектров времен жизни позитронов 64 -рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии 286 -ртутной порометрин 55 -Рунге-Кутта, численный 302 -Сим пеона 320

а) счетчики Гейгера — Мюллера, предназначенные для измерения интенсивности слабого рентгеновского рассеяния при малоугловом рассеянии рентгеновских лучей;

9 — половина угла отклонения дифрагированных лучей от направления падающих рентгеновских лучей (см. рис. 28.2), К — длина волны - рентгеновских лучей, !(.<,) — интенсивность когерентного рентгеновского рассеяния от образца (как от аморфных, так и от кристаллических областей), /с(5) — интенсивность когерентного рентгеновского рассеяния от кристаллической области.

Таким образом, об ориентации полимерного образца можно судить по его рентгенограмме, снятой на плоскую кассету. При этом на рентгенограмме изотропного образца, в котором отсутствует ориентация, получаются сплошные кольца. Если образец ориентирован, то его устанавливают так, чтобы ось ориентации была перпендикулярна падающему рентгеновскому лучу. На плоской фотопленке, расположенной за ориентированным образцом, вместо колец появляются дуги, а в случае сильной ориентации - пятна. Более полное представление о характере текстуры можно получить, если на плоскую фотопленку снять еще одну рентгенограмму ориентированного образца, расположив его так, чтобы предполагаемая главная ось ориентации совпадала с направлением пучка рентгеновских лучей. При этом сплошные кольца на рентгенограмме ориентированного образца говорят об одноосной ориентации; если вместо сплошных колец получаются дуги, то образец имеет аксиально-плоскостную текстуру [27]. Данные рентгеновского рассеяния под малыми углами (МУРР) позволяют получать дополнительные сведения о характере перехода от исходной сферолитной структуры полимера к ориентированной фибриллярной.

Методом широкоуглового рентгеновского рассеяния было выяснено [342], что при введении в СКИ-3 эпоксидной смолы (УП-612), полиэтиленимина (ПЭИ), полиэтиленполиамина (ПЭПА), а также их композиций (0,2-5,0 масс.ч. на 100 масс.ч. каучука), не происходит их взаимного растворения, а модификаторы образуют эмульсии с сохранением каждым компонентом ближней упорядоченности. Об этом же свидетельствуют электрофизические исследования модифицированного СКИ-3. На спектре тангеса угла диэлектрических потерь появляется второй высокотемпературный максимум, обусловленный диполь -сегментальными потерями самих эпокси- и амино содержащих модификаторов.

коллоидно-химического и топохимического взаимодействия компонентов серных вулканизующих систем в резиновых смесях. Согласно этой теории взаимодействие ускорителей, серы, оксидов металлов и жирных кислот определяется характером их диспергирования в резиновых смесях и адсорбцией на поверхности частиц оксидов металлов, протеканием между ними реакций в гетерогенных условиях, наличием в смеси ПАВ, образующихся в результате реакций жирных кислот с оксидами металлов. Полагают [228], что ПАВ в среде неполярного каучука способны образовывать мицеллы, как в случае неполярных углеводородных растворителей [229], в ядре которых концентрированы полярные группы молекул, а углеводородные цепи формируют внешнюю оболочку. Наличие мицелл ПАВ в резиновых смесях доказано в работах [230, 231] методами диффузионных исследований и малоуглового рентгеновского рассеяния. Роль образующихся мицелл заключается в солюбилизации полярных компонентов серных вулканизующих систем и их распределении в объеме каучука с повышенной локальной концентрацией, снижении поверхностного натяжения на межфазной границе низкомолекулярное вещество—каучук. Наряду с этим ПАВ в значительной мере выполняют функцию катализатора межфазных реакций [232].

а) счетчики Гейгера — Мюллера, предназначенные для измерения интенсивности слабого рентгеновского рассеяния при малоугловом рассеянии рентгеновских лучей;




Реконструкции действующих Раскрытие пиридинового Рекуперативных теплообменников Релаксация напряжения Релаксации полимеров Релаксации составляет Релаксационные состояния Релаксационными процессами Релаксационной спектрометрии

-
Яндекс.Метрика